首页| JavaScript| HTML/CSS| Matlab| PHP| Python| Java| C/C++/VC++| C#| ASP| 其他|
购买积分 购买会员 激活码充值

您现在的位置是:虫虫源码 > 其他 > 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

  • 资源大小:23373 K
  • 上传时间:2023-02-20
  • 下载次数:0次
  • 浏览次数:1次
  • 资源积分:1积分
  • 标      签: 数字集成电路 嵌入式 内核

资 源 简 介

·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用和隔离测试;用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材

相 关 资 源

您 可 能 感 兴 趣 的

同 类 别 推 荐

VIP VIP
0.176264s